2016年3月19日至24日，刘世元教授和江浩副教授赴美国拉斯维加斯参加了2016年SPIE智能结构与无损检测国际研讨会(SPIE Smart Structures/NDE Symposium)。会上，江浩副教授做了题为"Mueller matrix ellipsometry: a powerful tool for nondestructive characterization of nanostructures "的学术报告。
在报告中，江浩副教授从纳米结构计算测量基础理论与方法、高精度宽光谱穆勒矩阵椭偏仪自主研制、以及穆勒矩阵椭偏仪在纳米结构测量中的探索应用等三个层面，系统介绍了NOM研究组近年来承担国家自然科学基金"基于广义椭偏仪的纳米结构三维形貌参数测量理论与方法研究"和国家重大科学仪器设备开发专项"宽光谱广义椭偏仪设备开发"等项目的研究成果，阐明了椭偏散射测量技术特别适合于大面积纳米结构制造过程的非破坏性、在线、精确测量。结合研究组正在进行的工作介绍，江浩副教授对纳米测量技术未来的发展进行了展望。该研究引起了与会者的广泛关注与兴趣。
据了解，此次大会由SPIE组织，覆盖了材料科学、使能技术、传感器/执行器设计和制造、MEMS、NEMS以及其他微纳和生物电子设备、仿生制造、信号处理与控制、无线传感器和传感器网络、建模、仿真机应用等相关领域，吸引了来自世界各地专家、学者、和科研人员千余人。会议期间，刘世元教授和江浩副教授与参会人员进行了广泛的交流。
会后，应佛罗里达里工学院副校长Pei-feng Hsu教授的邀请，刘世元教授和江浩副教授于3月24日至29日访问了佛罗里达理工学院。江浩副教授做了学术报告。访问期间，刘世元教授和江浩副教授就可能的合作问题与Pei-feng Hsu副校长和佛罗里达理工学院工学院副院长Daniel Kirk教授进行了友好的交流。
应两人邀请，Daniel Kirk教授将于2016年8月回访我校进一步商讨合作事宜。
此次参会得到了911制品厂麻花国际合作推进计划经费支持。
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