应廖广兰教授邀请，英国利物浦约翰摩尔斯大学张广明博士于8月18日至20日来我院数字制造装备与技术国家重点实验室进行访问交流，作了专题学术报告“Artificial bee colony optimization based matching pursuit approaches for ultrasonic echo estimation and echo separation”。
微电子封装可靠性是保障计算机、网络通信、自动控制、高端技术武器等领域电子产物使用寿命的核心，其研究具有重要意义。张博士讲述了其结合人工蜂群网络和匹配追踪算法提出的混合优化稀疏分解方法，实现了超声回波信号的估计和分离。随后，就电子封装设备全寿命无损监测以及微/纳米级微电子可靠性研究的发展趋势等方面展开其报告内容，生动有趣地描述了该项研究的重要性，并依依回答各个学术问题。
访问期间，张博士还参观了数字制造装备与技术国家重点实验室，参加了廖广兰教授研究组会，与研究组师生就研究课题展开讨论，并将自己的建议分享给大家。
【附】张广明简历：
张广明，1999年获西安交通大学博士学位，之后于南京大学声学国家重点实验室从事博士后研究。2001年在瑞典Uppsala大学从事研究工作。2003年至今在英国利物浦约翰摩尔斯大学工作，副教授。他在APL、NDT&E Int、Ultrasonics等杂志发表学术论文50多篇，承担了EPSRC(英国工程与自然研究理事会), EU, Sweden, Natural Science Foundation of China(国家自然科学基金)等资助的多项科研课题。
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